El microscopio confocal es un microscopio que emplea una técnica óptica de imagen para incrementar el contraste y/o reconstruir imágenes tridimensionales utilizando un "pinhole" espacial (colimador de orificio delimitante) para eliminar la luz desenfocada o destellos de la lente en especímenes que son más gruesos que el plano focal. Más información.
El microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope) utiliza un haz de electrones que "barre" la muestra, adquiriendo de forma sincronizada la emisión de electrones secundarios o retrodispersados para generar una imagen tridimensional de la superficie del espécimen. Más información.
El microscopio electrónico de transmisión o TEM, (Transmission Electron Microscope) utiliza un haz de electrones de forma análoga a como se usa la luz en un microscopio óptico convencional, pero su menor longitud de onda permite obtener mayor resolución. La imagen obtenida muestra la estructura interna del espécimen. Más información.
Los microscopios de barrido de campo cercano, (NSOM ó SNOM) utilizan una sonda nanométrica que recorre la muestra, captando la interacción de la punta de la sonda con los átomos de la superficie. En función de la naturaleza de la señal procesada, la imagen obtenida muestra la estructura de la superficie a nivel atómico. Más información.
Cuando un electrón con una determinada velocidad (léase energía) choca contra un objeto, o muestra, pueden ocurrir varios sucesos, cada uno de los cuales va a generar una determinada respuesta en función de su naturaleza a nivel atómico. Más información.
La técnica analítica conocida como EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy) se basa en la medición de la distribución de energías de un haz de electrones después de atravesar una muestra fina para analizar las propiedades físico-químicas de la misma. Más información.
Guías de filtros para BD FACSVerse y FACSAria Fusion. Para saber más sobre citometría: Más información.