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Línea Caracterización Capas - Física Ap. I
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Caracterización de capas nano-estructuradas de semiconductores III-V
Caracterización por XPS, UPS y LIBS de capas de semiconductores III-V y de las intercaras de capas nano-estructuradas de semiconductores III-V
Miembros del Equipo
- Enrique Barrigón Montañés
- M. Cruz López Escalante
- Santiago Palanco López
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